- Tytuł:
- Papier i tektura : pomiar połysku : połysk przy kącie 45 stopni z zastosowaniem wiązki równoległej, metoda DIN
- Współwytwórcy:
- Polski Komitet Normalizacyjny Instytucja sprawcza Wydawca
- Tematy:
- Papier
- Pokaż więcej
- Data publikacji:
- copyright 2003
- Wydawca:
- Warszawa : Polski Komitet Normalizacyjny, copyright 2003
- Dostawca treści:
- Academica
Inne